详细摘要： 日立SU-8010 二手扫描电镜通过对样品二次电子、背散射电子的采集，可进行物质微观形貌和生物组织观察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以进行微区的点、线、面扫描测试。 场发射扫描电镜SU8010它继承了上一代S-4800的优点，性能有进一步提高，1kv使用减速功能后，分辨率提升到1.3nm，相对于S-4800可以在更低的加速电压下高分辨像，明显提升了以往很难观测的低原子序数样品。

详细摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷场发射电镜具有的功能，适用于各种固态样品表面形貌的二次电子像、 背散射电子像观察及图像处理。低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、 细胞、 微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感的样品表面超微形貌结构信息。 具有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化学组分综合分析能力。

详细摘要： SU-8010 日立二手冷场发射电镜二次电子像、反射电子像进行观察及图像处理。可对金属、陶瓷、岩石矿物、生物等样品及各种固体材料进行观察和分析研究。电镜配有高性能X射线能量色散谱仪，简称能谱仪（EDS），能在不损坏样品的同时进行样品表层的微区点、线、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化学组分综合分析能力。

详细摘要： 二手 日立S-4800冷场发射电镜观察和检测体相及纳米结构的固态无机材料（非磁性）等表面形貌和组成

详细摘要： 二手 日立 S-4700 冷场发射电镜SEM+EDX可以观察和检测非均相有机、无机材料，及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。能谱附件可对样品进行微区成分分析。

详细摘要： 二手 日立 SU-8010 冷场发射电镜真空系统采用分子泵和离子泵，抽真空速度快，设备的真空度高达10-8Torr。该设备在高倍模式下放大倍数100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍数20X～2000；二次电子像的分辨率在加速电压15KV时达到1.0nm，在加速电压1KV时达到10 nm；最大的样品尺寸是10mm。

详细摘要： 二手 日本电子 场发射电镜SEM+EDX:场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征.

详细摘要： 二手 日本电子JSM IT-200扫描电子显微镜利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

详细摘要： 二手 日本电子 JSM-7610F plus场发射电镜 ‌是一种优良的电子显微镜，其核心原理基于场发射电子源和电子光学系统。场发射电镜利用强电场作用，使得电子通过量子隧道效应逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的电子束。这种电子源相比传统的热发射电子源，具有更高的亮度和更小的电子束直径，从而实现更高的分辨率。

详细摘要： 二手 日本电子 SEMIT100扫描电镜主要特点为全数字化控制系统，高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统、全对中样品台及高灵敏度半导体背散射探头；用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。该型号在很多大学、研究院所及制造业被广泛使用。

详细摘要： 二手 日立 扫描电镜SU-3500系列SEM+EDX具有实现了“3 kV加速电压7 nm分辨率"的全新电子光学系统, 可实现实时立体成像的“实时立体观察功能"＊1、以及更高检测效率的 “UVD超高灵敏度可变压力检测器"＊1它为观察和分析提出了崭新的标准。

详细摘要： 二手 FEI 扫描电镜 QUANTA系列 250研究各种各样的材料，并进行结构和成份表征，是目前对扫描电镜 的主流应用要求。FEI QuantaTM FEG系列灵活、通用，足以应对当今人 们广博的研究方向这一挑战。“分析任何样品，得到所有数据"， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可辅以多种附件来确定材 料的性质和元素组成。

详细摘要： 二手 蔡司 SEM SUPRA25 扫描电镜广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、 织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析。

详细摘要： 二手 日本电子 IT-300扫描电镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统，不仅能观察高质量的图像，还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。JSM-IT300 提供高画质图像，能满足您对W-SEM机型的期待，新的镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有了显著的提高。

详细摘要： 二手FIB+双束FIB+场发射电镜在高科技领域，扫描电镜（SEM）是揭示材料微观世界的重要工具。美国FEI公司和赛默飞（Thermo Fisher Scientific）作为电镜技术的企业，其产品在全球范围内被广泛使用。淮安富汇电子有限公司，作为专业的第三方供应商，现提供现货供应的美国FEI/赛默飞扫描电镜。

详细摘要： 二手SEM+EDX场发射电镜:超高分辨率：场发射扫描电镜，最大可放大100万倍，提供超高清晰度的图像。多功能探头：配备SE（二次电子）、BSE（背散射）、EDS（能谱）和STEM（扫描透射）探头，能够实现表面形貌观察和成分分析。

详细摘要： sigma500 二手蔡司场发射电镜是蔡司公司推出的高性能设备，它采用成熟的GEMINI光学系统设计，分辨率超过0.8nm，能提供优秀分辨率和分析性能的科研平台。这款设备专注于EDS几何学设计，可以获取分析性能，而且有多种探测器选择，可以精准匹配您的应用程序，获取微小粒子、表面、纳米结构等多种图像信息

详细摘要： 二手日立SU-8010场发射电镜包括SU-8010主机和E-1045喷铂喷碳装置，并配备有EDAX X射线能谱仪。加速电压为15kV时，分辨率为1.0nm，加速电压为1kV时，分辨率为1.3nm。

详细摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨场发射扫描电镜场发射扫描电镜可用于材料分析和研究，特别是材料断口分析、微区成分分析、各种镀膜表面形貌分析、层厚测量和显微组织形貌及纳米材料分析等。

详细摘要： （2）手日本电子JSM-7610Fplus（SEM测试，日本电子JSM-7610FPlus）适用于多种样品的观察和分析。实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察。